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microworksX射線干涉儀Talint EDU
瀏覽次數：708 發布于：2023-04-16
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式，包括所有必要的硬件，以正確設置和微調干涉儀，并應用相位步進程序，以獲得三種成像模式：吸收、相位對比度和暗場對比度。
硬件的設計使得，在按照我們的說明組裝（預裝）套件后，莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進一步微深圳市華聯歐國際貿易有限公司工業自動化品牌產品種類眾多，我們可提供從獨立元件到全面集成的定制系統解決方案及工業備品備件選型服務，每種解決方案都可以為客戶帶來高效的靈活性和附加值。我們是工業自動化的全球合作伙伴;我們的目標是可持續發展。我們的專業是自動化;我們的使命是創新。我們的激情來自合作伙伴關系!誠信為首、正品采購、價格優惠、品質保障、體貼的服務為您提供安全、可靠、完善的售前、售后服務，不斷追求更加卓越的企業品質，向專業多元化的產品模式穩步前進。下文華聯歐小編將為您詳細講解有關《優勢供應microworksX射線干涉儀Talint EDU》等內容，歡迎您繼續閱讀，祝您生活愉快，謝謝~
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式，包括所有必要的硬件，以正確設置和微調干涉儀，并應用相位步進程序，以獲得三種成像模式：吸收、相位對比度和暗場對比度。
硬件的設計使得，在按照我們的說明組裝（預裝）套件后，莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進一步微調可以通過使用G1和G2支架中的微米螺釘使光柵繞光軸進行角旋轉，以直接的方式進行。
性能特點
- 由基板定義，基板是M6的試驗板，間距為25mm
- 光柵是使用X射線LIGA技術制造的，該技術確保了高精度和高的高寬比（縱橫比）
- 通過定位銷固定；對稱設置
- 兩個光柵都可以通過調節測微螺釘繞光軸旋轉
- 包含控制器
技術參數
產地：德國
長度：60厘米
寬度：15厘米
高度：20厘米
光柵開放區域
G0：15毫米
G1：70毫米
G2：70毫米
干涉儀的微調：僅調整G1和G2繞光軸的旋轉角度
樣品放置：簡單的旋轉臺，可在光軸內外擺動樣品
相位步進：閉環壓電級。30nm分辨率
邊緣能見度：通常>15%
G0和G2的占空比：0.55
G0和G2的基板：400µm石墨
G1占空比：0.5
G1基板：200µm硅
詳細參數
產品應用
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