microworksX射線干涉儀Talint EDU
瀏覽次數(shù)：709 發(fā)布于：2023-04-16
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式，包括所有必要的硬件，以正確設(shè)置和微調(diào)干涉儀，并應(yīng)用相位步進(jìn)程序，以獲得三種成像模式：吸收、相位對比度和暗場對比度。
硬件的設(shè)計使得，在按照我們的說明組裝（預(yù)裝）套件后，莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進(jìn)一步微深圳市華聯(lián)歐國際貿(mào)易有限公司工業(yè)自動化品牌產(chǎn)品種類眾多，我們可提供從獨(dú)立元件到全面集成的定制系統(tǒng)解決方案及工業(yè)備品備件選型服務(wù)，每種解決方案都可以為客戶帶來高效的靈活性和附加值。我們是工業(yè)自動化的全球合作伙伴;我們的目標(biāo)是可持續(xù)發(fā)展。我們的專業(yè)是自動化;我們的使命是創(chuàng)新。我們的激情來自合作伙伴關(guān)系!誠信為首、正品采購、價格優(yōu)惠、品質(zhì)保障、體貼的服務(wù)為您提供安全、可靠、完善的售前、售后服務(wù)，不斷追求更加卓越的企業(yè)品質(zhì)，向?qū)I(yè)多元化的產(chǎn)品模式穩(wěn)步前進(jìn)。下文華聯(lián)歐小編將為您詳細(xì)講解有關(guān)《優(yōu)勢供應(yīng)microworksX射線干涉儀Talint EDU》等內(nèi)容，歡迎您繼續(xù)閱讀，祝您生活愉快，謝謝~
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式，包括所有必要的硬件，以正確設(shè)置和微調(diào)干涉儀，并應(yīng)用相位步進(jìn)程序，以獲得三種成像模式：吸收、相位對比度和暗場對比度。
硬件的設(shè)計使得，在按照我們的說明組裝（預(yù)裝）套件后，莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進(jìn)一步微調(diào)可以通過使用G1和G2支架中的微米螺釘使光柵繞光軸進(jìn)行角旋轉(zhuǎn)，以直接的方式進(jìn)行。
性能特點(diǎn)
- 由基板定義，基板是M6的試驗(yàn)板，間距為25mm
- 光柵是使用X射線LIGA技術(shù)制造的，該技術(shù)確保了高精度和高的高寬比（縱橫比）
- 通過定位銷固定；對稱設(shè)置
- 兩個光柵都可以通過調(diào)節(jié)測微螺釘繞光軸旋轉(zhuǎn)
- 包含控制器
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)地：德國
長度：60厘米
寬度：15厘米
高度：20厘米
光柵開放區(qū)域
G0：15毫米
G1：70毫米
G2：70毫米
干涉儀的微調(diào)：僅調(diào)整G1和G2繞光軸的旋轉(zhuǎn)角度
樣品放置：簡單的旋轉(zhuǎn)臺，可在光軸內(nèi)外擺動樣品
相位步進(jìn)：閉環(huán)壓電級。30nm分辨率
邊緣能見度：通常>15%
G0和G2的占空比：0.55
G0和G2的基板：400µm石墨
G1占空比：0.5
G1基板：200µm硅
詳細(xì)參數(shù)
產(chǎn)品應(yīng)用
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