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microworksX射線干涉儀Talint EDU
瀏覽次數:994 發布于:2023-04-01
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件,以正確設置和微調干涉儀,并應用相位步進程序,以獲得三種成像模式:吸收、相位對比度和暗場對比度。硬件的設計使...品牌:microworks型號:Talint EDUmicroworks X射線干涉儀Talint EDU.pdf Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件,以正確設置和微調干涉儀,并應用相位步進程序,以獲得三種成像模式:吸收、相位對比度和暗場對比度。硬件的設計使得,在按照我們的說明組裝(預裝)套件后,莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。深圳市華聯歐國際貿易有限公司長期優勢供應microworksX射線干涉儀Talint EDU等產品,100%正品保證,價格優惠,貨期快,型號全,歡迎前來咨詢合作。所有歐美工控產品型號齊全,質量保證,價格全網最低,而且報價快,貨期短,歡迎來電咨詢!
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件,以正確設置和微調干涉儀,并應用相位步進程序,以獲得三種成像模式:吸收、相位對比度和暗場對比度。硬件的設計使...
品牌:microworks
型號:Talint EDU
microworks X射線干涉儀Talint EDU.pdf
Talint EDU是X射線Talbot Lau干涉儀的一種巧妙簡化形式,包括所有必要的硬件,以正確設置和微調干涉儀,并應用相位步進程序,以獲得三種成像模式:吸收、相位對比度和暗場對比度。
硬件的設計使得,在按照我們的說明組裝(預裝)套件后,莫爾條紋將很容易在您的探測器上看到。莫爾條紋圖案的進一步微調可以通過使用G1和G2支架中的微米螺釘使光柵繞光軸進行角旋轉,以直接的方式進行。
性能特點
由基板定義,基板是M6的試驗板,間距為25mm
光柵是使用X射線LIGA技術制造的,該技術確保了高精度和高的高寬比(縱橫比)
通過定位銷固定;對稱設置
兩個光柵都可以通過調節測微螺釘繞光軸旋轉
包含控制器
干涉儀的微調:僅調整G1和G2繞光軸的旋轉角度
樣品放置:簡單的旋轉臺,可在光軸內外擺動樣品
相位步進:閉環壓電級。30nm分辨率
邊緣能見度:通常 15%
G0和G2的占空比:0.55
G0和G2的基板:400 m石墨
G1占空比:0.5
G1基板:200 m硅
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